x射線熒光測厚儀產品簡介
優特完善的X熒光分析軟件基于基本參數法(FP法)或校正曲線法,確保了**的測量結果。儀器易于操作,軟件界面更具人性化。
	
	
		
			
				 
			
					 
			
						
							
				
								 
							
									元素含量 
								
分析指標
								
									分析范圍:100PPM-99.99% 準確度:相對誤差5%以內 
								
精密度:相對標準差5%以內 檢出限:100PPM
								
									測試時間
								 
								
									鍍層測厚:10-100秒 
							
元素分析:60-300秒
								
								 
							
									X光管
								 
								
									50W(4-50KV 0 -1.0mA)標配
								 
								
									樣品臺
								 
								
									簡易手動樣品臺,Z軸升降調節,操作簡單
								 
							
								 
							
									探測器
								 
								
									正比計數器
								 
								
									測試軟件
								 
								
									基本參數法
								 
							
								 
							
									濾光器
								 
								
									二次濾光
								 
								
									重量
								 
								
									100千克
								 
							
								 
							
									準直器
								 
								
									Standard configuration: 1 collimator (Ф3mm / Ф1mm /  
								
Ф0.5mm / Ф0.2mm /Ф0.1mm); Multi- collimators Options
								
									軟件
								 
								
									鍍層測厚軟件,元素分析軟件
								 
							
								 
							
									樣品觀察
								 
								
									CCD高精度彩色攝像頭
								 
								
									配套
								 
								
									標準液體測量杯
								 
							
								 
							
									對焦系統
								 
								
									鐳射對焦
								 
								
									穩壓系統
								 
								
									UPS穩壓電源
								 
							
								 
							
									測量方向
								 
								
									從上向下
								 
								
									電腦
								 
								
									聯想電腦
								 
							
								 
						
					
									可測元素
								 
								
									K到U
								 
								
									打印機
								 
								
									彩色噴墨打印機
								 
							
				 
		
	
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