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恒溫恒濕試驗箱設(shè)備檢測與校準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)分類--上海榮珂檢測儀器有限公司
日期：2025-11-04 20:57
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摘要：
恒溫恒濕試驗箱設(shè)備檢測與校準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)分類
1恒溫恒濕試驗箱設(shè)備檢測與校準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)分類：
1恒溫恒濕試驗箱設(shè)備檢測與校準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)分類：
在日常的溫度、濕度檢測和校準(zhǔn)過程中,我們會經(jīng)常遇到各式各樣的恒溫恒濕試驗設(shè)備的檢測與校準(zhǔn),其中有高溫試驗箱(房)、干燥箱、培養(yǎng)箱、真空箱、低溫試驗箱、高低溫試驗箱(房)、恒溫恒濕試驗箱、交變濕熱試驗箱(房)、鹽霧試驗箱等各種環(huán)境試驗設(shè)備。在以上各式各樣的恒溫恒濕試驗設(shè)備檢測與校準(zhǔn)的依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)也有多種多樣,其中可以分為以下三類:
（1）電子工業(yè)部第五研究所編寫的GB/T5170.1一1995《電工電子產(chǎn)品恒溫恒濕試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法總則》、GB/TS170.2一19%《電工電子產(chǎn)品恒溫恒濕試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗設(shè)備》、GB/T5170一19%《電工電子產(chǎn)品恒溫恒濕試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法濕熱試驗設(shè)備等》。
（2）河北省計量科學(xué)研究院編寫的JJF1101一2003《恒溫恒濕試驗設(shè)備溫度、濕度校準(zhǔn)規(guī)范》。
（3）機械電子工業(yè)部編寫的GBI1158一1989《高溫試驗箱技術(shù)條件》、GB10589一1989《低溫試驗箱技術(shù)條件》、GB10592一1899《高低溫試驗箱技術(shù)條件》GB10586一1989《濕熱試驗箱技術(shù)條件》、GB10587-1989《鹽霧試驗箱技術(shù)條件》等。
2.恒溫恒濕試驗設(shè)備的檢測與校準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)不同之處
在以上三類檢測與校準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)中,有許多的不統(tǒng)一的地方,造成在恒溫恒濕試驗設(shè)備檢測和校準(zhǔn)過程中,同樣的檢測與校準(zhǔn)數(shù)據(jù),依據(jù)不同的依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)可以得出不同的結(jié)論,有的依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)可以得出合格的結(jié)論,而有的依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)可以得出相反的不合格結(jié)論。
（1）度波動度計算方法的不同 在GB/TS170.1一1995《電子電工產(chǎn)品恒溫恒濕試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法總則》中3.2.5條溫度波動度是指試驗箱(室)在穩(wěn)定狀態(tài)下,工作空間內(nèi)任意一點溫度隨時間的變化量。
（2）在JJ’F1101一2003《恒溫恒濕試驗設(shè)備溫度、濕度校準(zhǔn)規(guī)范》中6.3.3條溫度波動度計算指環(huán)境試驗設(shè)備在穩(wěn)定狀態(tài)下,工作空間中心點溫度隨時間的變化量,即中心點在30min(每隔Zmin測試一次),…實測*高溫度與*低溫度之差的一半,冠以“士”號。
（3）在GB/Tsl70.5一1996《電工電子產(chǎn)品恒溫恒濕試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法濕熱試驗設(shè)備》中8.1.4條規(guī)定按下式計算溫度波動度:△Tf二*(Tfmax一Tfmin)/2式中△乃—溫度波動度,℃;乃ma一中心點在n次測量中測得的*高溫度,℃
恒溫恒濕試驗設(shè)備本公司認(rèn)為比較合適的技術(shù)指標(biāo)為:溫度偏差不大于士2℃;溫度均勻度應(yīng)不大于2.0℃;溫度波動度應(yīng)不大于士0.5℃。相對濕度偏差不大于十2一3%RH;相對濕度均勻度不大于3%RH;相對濕度波動度應(yīng)不大于士2%RH。
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